En
Ru
Menu
Том 49 (2013), Номер 6, стр. 116-119
Устройства для многоточечного тензометрирования на базе кристаллов TlIn1‑xPrxSe2
Мамедов Г.А., Годжаев Э.М., Гюльмаммедов К.Д., Дадашов М.Т., Рустамов В.Д.
Аннотация
УДК 537.226.621.315
Разработаны устройства для использования при высоких температурах многоточечного тензометрирования на базе новых кристаллов TlIn1-xPrxSe2 (0 ≤ x ≤ 0,04), позволяющие повысить производительность и надежность результатов измерений при многоточечной тензометрии.
Ключевые слова: многоточечная тензометрия, фотоэлектрические свойства, направленная деформация, звуковой зонд.
The given work presents the devices on the base of new TlIn1-xPrxSe2 (0 ≤ x ≤ 0.04) crystals developed to be used in high temperature multipoint tensometry, which allows for raising productivity and reliability of results of measurements at multipoint tensometry.
Keywords: multipoint tensometry, photoelectric properties, directional strain, acoustic probe.
Скачать полнотекстовый PDF. 3386 скачиваний
Web-Design Web-Development SEO - eJoom Software. All rights reserved.