Специфика рентгеноструктурного анализа поверхностных слоев металлов, обладающих неоднородностью структуры по глубине

Аннотация

УДК: 539.26+621.9.048.4

Обосновано использование метода скользящего пучка рентгеновских лучей для изучения субструктуры (дисперсности кристаллитов, плотности дислокаций) поверхностных слоев, обладающих существенной неоднородностью структуры по глубине. Представлены сравнительные данные физических уширений (β) интерференционных линий, определенных методами скользящего пучка и симметричной съемки по Брэггу-Брентано поверхностных слоев металлов, модифицированных электроискровым легированием. Показана существенная разница величин β, что объясняет возможную некорректность последующих расчетов параметров субструктуры в случае съемки по второму варианту.

It is justified the use of the sliding beam of X-rays for the study of substructure (crystallites dispersion, dislocations density) of a superficial layers having essential inhomogeneity of structure by depth. There are presented comparative data of physical broadenings (b) of interference lines, defined by methods of sli-ding beam and symmetrical survey of metals’ superficial layers by Bragg-Brentano, modified by electrospark alloying. The essential difference of values of b is shown, which explains possible inconsistency of subsequent calculations of substructure parameters in the case of survey by the second variant.

Скачать полнотекстовый PDF. 5283 скачиваний

Menu

Том 47 (2011), Номер 6, стр. 103-107

Специфика рентгеноструктурного анализа поверхностных слоев металлов, обладающих неоднородностью структуры по глубине

Аннотация