Menu

Результаты поиска:

Том 48 (2012), Номер 6, стр. 114-118

Цифровой метод измерения толщины нанометровых пленок на базе микроинтерферометра МИИ-4

Мешалкин А.Ю., Андриеш И.С., Абашкин В.Г., Присакар А.М., Тридух Г.М., Акимова Е.А., Енаки М.А.

Скачать полнотекстовый PDF. 6460 скачиваний

Web-Design Web-Development SEO - eJoom Software. All rights reserved.