Исследования рельефа поверхности атомно-силовым методом и диэлектрических свойств композиций полиэтилена высокой плотности и добавок TlGaSe₂

Мамедов Г.А., Годжаев Э.М., Магеррамов А.М., Зейналов Ш.А.

Abstract

УДК 631.171, 005.571.1

В работе излагаются технология получения, исследования рельефа поверхности атомно-силовым микроскопом и изучение диэлектрических свойств композиций полиэтилена высокой плотности и добавок TlGaSe₂.

The technology of reception, research of a relief of a surface by the atom-power microscope method and studying of dielectric properties of PHD+х vol.% TlGaSe₂ (composites and PHD+x vol.% TlGaSe₂ (х = 0; 0.01; 0.05; 0.10) are studied in the suggested work.

Download full-text PDF. 3515 downloads

Menu

Vol. 47 (2011), Issue 6, p. 94-98

Исследования рельефа поверхности атомно-силовым методом и диэлектрических свойств композиций полиэтилена высокой плотности и добавок TlGaSe2

Abstract

Исследования рельефа поверхности атомно-силовым методом и диэлектрических свойств композиций полиэтилена высокой плотности и добавок TlGaSe₂