ELEKTRONNAYA OBRABOTKA MATERIALOV
ISSN 0013-5739 (Print) 2345-1718 (Online)

Menu

Vol. 49 (2013), Issue 6, p. 116-119

Устройства для многоточечного тензометрирования на базе кристаллов TlIn1‑xPrxSe2

Мамедов Г.А., Годжаев Э.М., Гюльмаммедов К.Д., Дадашов М.Т., Рустамов В.Д.


Abstract

УДК 537.226.621.315 

 

Разработаны устройства для использования при высоких температурах многоточечного тензометрирования на базе новых кристаллов TlIn1-xPrxSe2 (0 ≤ x ≤ 0,04), позволяющие повысить производительность и надежность результатов измерений при многоточечной тензометрии.

 

Ключевые слова: многоточечная тензометрия, фотоэлектрические свойства, направленная деформация, звуковой зонд.

 

 

The given work presents the devices on the base of new TlIn1-xPrxSe2 (0 ≤ x ≤ 0.04) crystals developed to be used in high temperature multipoint tensometry, which allows for raising productivity and reliability of results of measurements at multipoint tensometry.

 

Keywords: multipoint tensometry, photoelectric properties, directional strain, acoustic probe.

 
 

Download full-text PDF. 3385 downloads

Web-Design Web-Development SEO - eJoom Software. All rights reserved.