ELECTRICAL PROCESSES IN ENGINEERING AND CHEMISTRY
УДК 620.3:539.8
Nanosized particles have become the focus of attention of researchers due to their outstanding optical properties as compared to those of bulk materials. The optical properties can be tuned or tailored if these nanocrystals of right materials are grown on a suitable host matrix. In this paper, a novel method of incorporating inorganic/organic crystals in a polymer matrix and the study of their optical properties are presented. By controlling the level of saturation of the solution and the rate of evaporation, an attempt has been made to incorporate nanocrystals in the host polymer. Inorganic material Potassium di-hydrogen phosphate (KDP) has been chosen because of its versatile properties and applications. Polyvinyl alcohol (PVA) is the host matrix since it has good aqueous solubility and exceptional transparency. The prepared samples, thin nanocrystals in a polymer sheet, have been characterised by various spectroscopic techniques such as X-ray diffraction (XRD), UV-vis spectrometer, Fourier Transform Infrared Spectroscopy (FT-IR) and scanning electron microscopy (SEM).
Наночастицы привлекают внимание исследователей из-за их улучшенных, по сравнению с объемными материалами, оптических свойств. Оптические свойства можно запрограммировать, подстроить, адаптировать, если нанокристаллы нужного материала выращивают на соответствующей матрице. В данной статье описан новый метод включения неорганических/органических кристаллов в полимерную матрицу, а также представлены результаты исследования их оптических свойств. Контролируя степень насыщения раствора и скорость испарения, авторы попытались ввести нанокристаллы в исходный полимер. В качестве включенного материала был выбран неорганический кристалл дигидрофосфат калия (KDP) из-за его разнообразных свойств и применений. В качестве матрицы был использован поливиниловый спирт (PVA) благодаря его хорошей растворимости в воде и исключительной прозрачности. Характеристики приготовленных образцов, тонких нанокристаллов на полимерной матрице, были определены с помощью различных спектроскопических методов, таких как: дифракция рентгеновских лучей (XRD), спектроскопия с помощью спектрометра для УФ/ видимого диапазона (UV-VIS), ИК-Фурье спектроскопия (FT-IR), а также электронно-сканирующая микроскопия (SEM).
Download full-text PDF. 4346 downloads
Web-Design Web-Development SEO - eJoom Software. All rights reserved.