ELECTRICAL PROCESSES IN ENGINEERING AND CHEMISTRY
Калугин В.Д., Сидоренко О.В., Опалева Н.С., Кейлин В.Е., Ковалев И.А.
УДК 621.357
Установлено образование стабильной сверхпроводящей (СП) фазы интерметаллида Nb3GexAI1-x (x ≈ 0,2-0,3) путем термического отжига при Т=1213±20 К в вакууме образцов полислойных металлических структур типа Nb/Ge/Al. Полислойные структуры получены методом электрохимического осаждения слоев Ge и AI на Nb (Nb – конструкционная основа). Измерены критические токи Ic, протекающие в образцах при температуре Не(ж) в магнитных полях Н>>Нс2(Nb), рассчитаны критические плотности тока jc. Установлен характер зависимостей jc от времени отжига, напряженности магнитного поля Н (Тл), толщины слоя Ge−hGe (мкм) (при hAl ≈ const) и толщины слоя Al – hAl (мкм) (при hGe ≈const). Сделано заключение о технологической целесообразности способа электрохимического формирования полислойных структур типа Nb/Ge/AI для получения (методом термодиффузии) СП-интерметаллидов.
Formation of stable superconducting (SC) phase of intermetallid Nb3GexAl1-x (x ≈ 0.2-0.30) by thermal annealing of multi-layer structures Nb/Ge/Al-like specimens under T=1213±20K in vacuum has been ascertained. The multi-layer structures had been made with the method of electrochemical concretion of Ge and Al layers on Nb (Nb is a structural foundation). The critical (Ic) currents that flow inside the specimens under the temperature He in magnetic fields H>>Hc2(Nb) have been measured; the critical densities of current (jc) have been rated. The nature of (jc)-dependence on the time of annealing, magnetizing force H(Tl), layer thickness of Ge -hGe (mcm) (under hAl ≈ const) and the layer thickness of Al-hAl(mcm) (under hGe ≈ const) have been ascertained. A conclusion on technological advisability of the electrochemical-forming method of multi-layer Nb/Ge/Al-like structures in order to preparation of SC intermetallides with the thermal-diffusion method has been made.
Download full-text PDF. 3246 downloads
Web-Design Web-Development SEO - eJoom Software. All rights reserved.