О безэталонном анализе твердых тел искровым масс-спектрометрическим методом

Салман Манучар А., Нурубейли З.К., Нуриев К.З., Нурубейли Т.К.

Abstract

УДК 621.384.8

На основе данных о степени ионизации ряда простых веществ под действием искрового разряда в вакууме предложен метод безэталонного анализа элементного состава твердых веществ. Показано, что отношение чувствительности обнаружения примеси к чувствительности регистрации матрицы равно ионизуемости простых веществ.

On basis of data about the ionization degree of single substances under the spark discharge action in vacuum the method of standardless analysis element composition of solid substances is offered. It is shown, that attitude of sensitivity of mixture detection to registration matrix sensitivity is equal to ionization degree of simple substances.

Download full-text PDF. 2949 downloads

Menu

Vol. 47 (2011), Issue 3, p. 85-89

О безэталонном анализе твердых тел искровым масс-спектрометрическим методом

Abstract